Micky

Einführung in die Rasterkraftmikroskopie (AFM) Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist ein bildgebendes Verfahren zur Messung der physikalischen Eigenschaften einer Probe im Nanomaßstab. Mit dieser Technik lassen sich Kräfte im Nanobereich und Oberflächentopografien messen und Veränderungen der Oberflächeneigenschaften feststellen. Sie ist eine der leistungsfähigsten Rastersondenmikroskopietechniken, die es gibt, und wurde für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen eingesetzt. Arbeitsprinzip … Weiterlesen